8V182512IDGGREP

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Parte del fabricante

8V182512IDGGREP

Fabricante
Texas
Descripción
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Categoría
circuitos integrados
Familia
lógica - lógica de especialidad
Serie
-
En stock
0
Hojas de datos en línea
-
Consulta
  • serie:-
  • paquete:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
  • estado de la pieza:Active
  • tipo de lógica:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • tensión de alimentación:2.7V ~ 3.6V
  • número de bits:18
  • Temperatura de funcionamiento:-40°C ~ 85°C
  • Tipo de montaje:Surface Mount
  • paquete / caja:64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • paquete de dispositivos del proveedor:64-TSSOP
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