SN74BCT8374ADWRG4

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Parte del fabricante

SN74BCT8374ADWRG4

Fabricante
Texas
Descripción
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
Categoría
circuitos integrados
Familia
lógica - lógica de especialidad
Serie
-
En stock
0
Hojas de datos en línea
-
Consulta
  • serie:74BCT
  • paquete:Tape & Reel (TR)
  • estado de la pieza:Obsolete
  • tipo de lógica:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
  • tensión de alimentación:4.5V ~ 5.5V
  • número de bits:8
  • Temperatura de funcionamiento:0°C ~ 70°C
  • Tipo de montaje:Surface Mount
  • paquete / caja:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • paquete de dispositivos del proveedor:24-SOIC
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